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熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗機應用于5G通 信、半導體芯片、傳感器等領域。在短的時間內(nèi)檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學變化和物理傷害，減少測試與驗證時間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。

整合了 CPU/內(nèi)存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式測試方案。
多種配置組合，適應用戶不同使用場景，如研發(fā)中心SIT測試，研發(fā)團隊硬件匹配性測試，工廠測試，RMA維修，進料檢。
DDR內(nèi)存測試是非常重要的，可以確保計算機系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能。在進行DDR內(nèi)存測試時，需要使用專業(yè)的測試工具和軟件來檢測內(nèi)存的速度、容量和穩(wěn)定性。通過定期進行DDR內(nèi)存測試，可以及時發(fā)現(xiàn)并解決內(nèi)存問題，確保系統(tǒng)運行的順暢和穩(wěn)定。DDR內(nèi)存測試還可以幫助用戶評估內(nèi)存的性能，選擇適合自己需求的內(nèi)存產(chǎn)品。

近幾年EMMC應用領域從手機應用延伸到IOT、工業(yè)、醫(yī)療甚至是車用電子。這個微小的芯片中，儲存了許多重要的數(shù)據(jù)，在面對各種不同的應用場景時，芯片的可靠度、衰老以及對于工作環(huán)境溫度的穩(wěn)定性也變得極為重要。
如何確保產(chǎn)品所使用的EMMC與UFS能夠在這些艱難的環(huán)境下提供穩(wěn)定的功能與效能表現(xiàn)也成為工程師極為關注的項目。

Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜可以通過物理測試和邏輯測試方法，讀取到 NAND Flash 閃存芯片的真實性能參數(shù)，實時地測試閃存顆粒的各類特性，并一鍵導出測試報告，同時Flash-Nand 4顆寬溫BIT老化柜可依據(jù)不同測試場景需求，提供基礎測試（實現(xiàn)閃存質量分級）、實驗測試（對閃存顆粒實際壽命進行預測，可輸出對比報告）、高階測試（自由選擇測試 pattern，設置測試條件，實現(xiàn)對顆粒性能的測試分析）。

應用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。在高溫RDT老化測試過程中，可以準確監(jiān)測產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進行必要的維護和調(diào)整，從而提高產(chǎn)品的整體質量和可靠性。擴展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產(chǎn)品的能效表現(xiàn)，為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

應用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。
在高溫RDT老化測試過程中，可以準確監(jiān)測產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進行必要的維護和調(diào)整，從而提高產(chǎn)品的整體質量和可靠性。擴展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產(chǎn)品的能效表現(xiàn)，為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

測試產(chǎn)品通道數(shù)量：1 顆
產(chǎn)品兼容：三星，東芝，海力士，長江存儲，鎂光。

測試產(chǎn)品通道數(shù)：4 Port。
接口：AIC （GEN3,GEN4)。

涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴大檢測｜粘接不好的接頭松馳檢測｜使螺釘連接或鉚接不當?shù)慕宇^松馳檢測｜使機械張力不足的壓配接頭松馳檢測｜合質量差的焊點接觸電阻加大或造成開路檢測｜密封失效檢測。

SSD的智能化測試系統(tǒng)采用Win7操作系統(tǒng)平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA產(chǎn)品的測試項目，通過LUNIX系統(tǒng)和路油器進行數(shù)據(jù)傳輸，實現(xiàn)一鍵式操作，網(wǎng)絡化控制，節(jié)省人工，實現(xiàn)智能化數(shù)據(jù)管理，長久保留測試結果。

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電磁式振動試驗機在實驗室條件下模擬振動環(huán)境，測試各種振動試驗應用領域中的沖擊強度和可靠性。